設(shè)備包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺(tái)度為0.5度的光學(xué)角度測(cè)量?jī)x組成。用于測(cè)試人工晶狀體在一個(gè)處方直徑內(nèi)的支撐眼組織和接近*接觸狀態(tài)。

    人工晶狀體半成品測(cè)量?jī)x按標(biāo)準(zhǔn)提供一套符合要求的EXCEL格式測(cè)試報(bào)告軟件，其中已經(jīng)嵌入相關(guān)計(jì)算公式。*符合YY0290-2008附錄D相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)完成。

人工晶狀體半成品測(cè)量?jī)x的優(yōu)勢(shì)：

   測(cè)量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。

   測(cè)量散光，軸線及殘余散光。

    干涉條紋可以體現(xiàn)整個(gè)表面的光學(xué)特征。

    數(shù)值化和圖形化整個(gè)表面的曲率分布。

    對(duì)刀分析功能能夠提供加工過(guò)程中刀具的各種珍貴信息，如刀具精度，是否對(duì)準(zhǔn)，是否磨損等。

人工晶狀體半成品測(cè)量?jī)x其他優(yōu)勢(shì)：

    可以輕易分辨細(xì)微的表面缺陷，即便是某些其他設(shè)備不可見(jiàn)的細(xì)節(jié)。

    不需要特殊的防震平臺(tái)。

    可測(cè)量樣品的整個(gè)表面區(qū)域，包括環(huán)形區(qū)域。

人工晶狀體半成品測(cè)量?jī)x的技術(shù)參數(shù)：

    測(cè)量范圍：3-64mm凸面或凹面

    測(cè)量精度：優(yōu)于5微米

    重復(fù)性：優(yōu)于2.5微米

    測(cè)量時(shí)間：5-8秒（球鏡）